東海大學共同貴重儀器中心

化材系場發射掃描式電子顯微鏡詳細資料
簡稱	化材系場發射掃描式電子顯微鏡
編號，依儀器	A0014
中文名稱	化材系場發射掃描式電子顯微鏡
英文名稱	Field Emission Scanning Electron Microscope
圖片
功能說明	試片之顯微結構觀察及照相：一、二次電子影像（SEI）二、背向散射電子影像（BEI）
儀器服務項目
儀器購置日期	2006年7月
儀器購置金額	0
儀器廠牌	JOEL
型號	JSM-7000F
儀器規格	解析度：1.2nm（30KV）；3.0nm（1KV）。加速電壓：0.5 to 30KV。
主要配件，配件
注意事項	a.試片之製作由使用者自理。 b.試片大小之長、寬、高不超過0.3cm為限。 c.樣品必須先烘乾，且在真空中無揮發性。在電子束照射下會分解或釋放氣體之樣品，因有礙必要之真空維持，恕不受理。 d.如為非金屬、粉體試件，請先做蒸鍍及固定處理。　　 e.本儀器拒絕受理含有毒性、腐蝕性、揮發性及低熔點等之試件。 f.樣品台( holder )不外借，申請者可自行購買SEM銅座，或提早前來準備黏製試片。
儀器放置位置	化材系館