東海大學共同貴重儀器中心

先進X-Ray樣品結構與成分分析系統詳細資料
簡稱	先進X-Ray樣品結構與成分分析系統
編號，依儀器	A0006
中文名稱	先進X-Ray樣品結構與成分分析系統
英文名稱	Advance X-Ray system for analysis of structure and composition(PHILIPS X’PERT Pro MPD)
圖片
功能說明	Ｘ光繞射儀可以鑑定各種物質(藥物、材料、礦物等)在結晶樣品中的形狀，結構，晶面的距離及其他相關的結構參數，是化學、材料、醫藥等各方面均需使用之儀器。本套Ｘ光繞射儀的主要功能如下: 1.結構鑑定 2.薄膜厚度量測(< 1μm) 3.材料晶粒粒徑大小測量 4.Rocking curve 5.表面粗糙度分析 6.In-plane 量測功能
儀器服務項目
儀器購置日期	2003/7/1
儀器購置金額	0
儀器廠牌	PHILIPS X’PERT Pro
型號	PHILIPS X’PERT Pro MPD
儀器規格	1.儀器需要電壓: 220-240伏特 2.儀器最大負載電流: 45安培 3.儀器重量: 1200公斤 4.儀器最大輸出功率: 3000瓦特 5.儀器最高輸出電壓: 60000伏特 6.儀器最大陽極電流: 60毫安培 7.Θ/2Θ微程式控制之測角器，鎳濾光器
主要配件，配件
注意事項	a. 圖譜將於3天內回件
儀器放置位置	基礎科學館306室