東海大學共同貴重儀器中心

高解析穿透式電子顯微鏡詳細資料
簡稱	高解析穿透式電子顯微鏡(物理系)
編號，依儀器	A0008
中文名稱	高解析穿透式電子顯微鏡
英文名稱	High Resolution Tranmission Electron Microscope(JEOL JEM-2100)
圖片
功能說明	1.TEM mode:影像觀察，解析度可達0.23nm(HR)，倍率可達百萬倍以上，觀察明場像或暗場像。 2.SAD mode:選區繞射利用選區aperture做μm級的繞射，鑑定晶體結構。 3.NBD mode:微區繞射(nano beam diffraction)，鑑定微區晶體結構。 4.EDS mode:將Electron beam縮成點狀作微區成分分析。
儀器服務項目	JEM-2100為日本電子公司(JEOL Co. Ltd)所開發之穿透式電子顯微鏡，配備高性能 LaB6電子源，提供高亮度高空間解析度的電子束，適合多樣化的試片分析。JEM-2100的標準功能包括穿透影像觀察、電子繞射做晶體結構分析 (可做SAD及NBD)及EDS成分分析。 ●TEM mode：影像觀察,解析度可達0.19nm(UHR),倍率可達百萬倍以上,並可利用OBJ aperture 觀察明場像(Bright field image, 一般觀察)或暗場像(dark field mage, 某特定繞射晶面或缺陷觀察)。 ●SAD mode：選區繞射利用選區 aperture 做 um 級的繞射，鑑定晶體結構。 ●NBD mode：微區繞射 (nano beam diffraction) 利用微細電子束作 nm 級的繞射，鑑定微區晶體結構。 ●EDS mode：將Electron beam 縮成點狀作微區成分分析。
儀器購置日期	2006/10/1
儀器購置金額	0
儀器廠牌	JEOL
型號	JEOL JEM-2100
儀器規格	1.電子源：LaB6 2.操作電壓：80、100、120、160、200KV 3.解像力：Point：0.19nm 4.解像力：Lattice：0.14nm 5.放大倍率2000倍~150萬倍 6.雙傾斜基座：X軸±25°；Y軸±25° 7.配件: Oxford Energy Diapersive X-ray Analyzer
主要配件，配件
注意事項	本機台對於檢驗樣品的限制如下： a.待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度，以避免在進出電鏡、或在檢測的操作過程中，發生剝落、碎裂的狀況。 b.低熔點的材料如:銦,錫等,會產生相變及蒸鍍效應，請勿使用。 c.在電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品，如有機物、高分子等，會影響真空、造成污染，請勿使用。 d.具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料，請勿使用。 e.未經正確處理或充分乾燥的粉末樣品，請勿使用。
儀器放置位置	基礎科學館108室