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掃描探針顯微鏡及共軛焦光學分析系統 詳細資料
簡稱 掃描探針顯微鏡及共軛焦光學分析系統 
編號,依儀器 A0007 
中文名稱 掃描探針顯微鏡及共軛焦光學分析系統 
英文名稱 Workstation for Nano Physical Properties 
圖片
功能說明 共焦拉曼、螢光、雷射量測
掃描探針顯微系統
含接觸模式(contact mode)、輕敲模式(tapping mode)、非接觸模式(noncontact mode)、true noncontact mode、摩擦力模式
電流成像(CAFM)
磁力成像(MFM)、電力成像(EFM)、功函數成像(KFM)
電容成像(SCM)
探針微影(nanolithography)
穿隧電流(STM): atomic resolution
掃描探針能譜(STS)
 
儀器服務項目 掃描探針顯微鏡表面結構掃描探測
共軛焦光譜儀 拉曼光譜 
儀器購置日期 2009/04/29 
儀器購置金額
儀器廠牌 NTEGRA SPECTRA 
型號 NT-MTD 
儀器規格 1. Scanning range: 100x100x12um
2. Sample size up to 40×10 mm
3. Confocal microscope
空間解析: 400 nm (當物鏡之NA值為0.7)
雷射波長: 633 nm
波長解析: 0.025 nm (當光柵為 2400線/mm)
光譜範圍: 390 – 800 nm
4. SPM 雷射波長: 800 nm
 
主要配件,配件  
注意事項 本機台對於檢驗樣品的限制如下:
1. 所檢測之樣品需自行處理完畢,如因使用者樣品問題造成無法完成檢測或發生延誤檢測之情形,使用者需自行負責。
2. 寄送樣品者需標定樣品量測點、預期訊號位置、預期成果等詳細相關資訊。
3. 使用者需自行了解樣品光譜位址,本中心不提供判讀服務。
4. 其他有樣品處裡問題請洽負責人或技術人員。
 
儀器放置位置 基礎科學實驗館512室 
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