東海大學共同貴重儀器中心

高解析穿透式電子顯微鏡(化學系) 詳細資料
簡稱	HR-TEM
編號，依儀器	A0009
中文名稱	高解析穿透式電子顯微鏡(化學系)
英文名稱	High Resolution Transmission Electron Microscope
圖片
功能說明	穿透影像觀察、微區繞射及鑑定晶體結構 TEM mode：影像觀察 SAD mode：選區繞射利用選區 aperture 做 um 級的繞射，鑑定晶體結構 NBD mode：微區繞射 (nano beam diffraction) 利用微細電子束作 nm 級的繞射，鑑定微區晶體結構。
儀器服務項目	提供高亮度高空間解析度的電子束，適合多樣化的試片分析。JEM-2100的標準功能包括穿透影像觀察、微區繞射及鑑定晶體結構。
儀器購置日期	2023/09/12 捐贈
儀器購置金額	0
儀器廠牌	JEOL JEM-2100
型號	JEOL JEM-2100
儀器規格	1 .電子源：LaB6 2. 操作電壓：80、100、120、160、200KV 3. 解像力：Point：0.19nm 4. 解像力：Lattice：0.14nm 5. 放大倍率2000倍~150萬倍 6. 雙傾斜基座：X軸±25°；Y軸±25°
主要配件，配件
注意事項	本機台對於檢驗樣品的限制如下： a.待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度，以避免在進出電鏡、或在檢測的操作過程中，發生剝落、碎裂的狀況。 b.低熔點的材料如:銦,錫等,會產生相變及蒸鍍效應，請勿使用。 c.在電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品，如有機物、高分子等，會影響真空、造成污染，請勿使用。 d.具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料，請勿使用。 e.未經正確處理或充分乾燥的粉末樣品，請勿使用。
儀器放置位置	BS108