中文名稱 |
高解析穿透式電子顯微鏡 |
英文名稱 |
High Resolution Transmission Electron Microscope |
申請表單 |
申請表單下載 |
儀器廠牌型號 |
JEOL JEM-2100 |
購置年限 |
2006/10/1 |
功 能 |
JEM-2100為日本電子公司(JEOL Co. Ltd)所開發之穿透式電子顯微鏡,配備高性能LaB6電子源,提供高亮度高空間解析度的電子束,適合多樣化的試片分析。JEM-2100的標準功能包括穿透影像觀察、電子繞射做晶體結構分析 (可做SAD及NBD)EDS成分分析。
●TEM mode:影像觀察,解析度可達0.19nm(UHR),倍率可達百萬倍以上,並可利用OBJ aperture 觀察明場像(Bright field image,一般觀察)或暗場像(dark fieldmage,某特定繞射晶面或缺陷觀察)。
●SAD mode:選區繞射利用選區 aperture 做 um 級的繞射,鑑定晶體結構。
●NBD mode:微區繞射 (nano beam diffraction) 利用微細電子束作 nm 級的繞射, 鑑定微區晶體結構。
●EDS mode:將Electron beam 縮成點狀作微區成分分析。 |
重要規格 |
1. 電子源:LaB6
2. 操作電壓:80、100、120、160、200KV
3. 解像力:Point:0.19nm
4. 解像力:Lattice:0.14nm
5. 放大倍率2000倍~150萬倍
6. 雙傾斜基座:X軸±25°;Y軸±25°
7. 配件: Oxford Energy Diapersive X-ray Analyzer |
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聯絡人 |
儀器負責人:張晃暐教授 (TEL:04-23590121 ext.
32143 ) hwchang@thu.edu.tw
共同貴重儀器中心連絡人: 李春美 (TEL:04-23590121 ext. 30045 ) limei@thu.edu.tw |
注意事項 |
本機台對於檢驗樣品的限制如下:
- 待測樣品應該具有適當、足夠的機械強度,以避免在進出電鏡、或在檢測的操作過程中,發生剝落、碎裂的狀況。
- 低熔點的材料如:銦,錫等,會產生相變及蒸鍍效應,請勿使用。
- 在電子束照射下會分解或釋出氣體之樣品,如有機物、高分子等,會影響真空、造成污染,請勿使用。
- 具強磁性、磁性或易被電磁透鏡吸引的粉末型式樣品或材料,請勿使用。
- 未經正確處理或充分乾燥的粉末樣品,請勿使用。
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收費標準 |
** 不負責樣品製備及底片沖洗 **
** 每單元以三小時計,底片可自備 **
** CCD拍照不含繞射功能 **
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校內單位 |
校外學術單位 |
營利事業單位 |
使用費 |
1000元/單元 |
2500元/單元 |
4000元/單元 |
EDS操作費 |
200元/點 |
200元/點 |
200元/點 |
底片 |
100元/張 |
100元/張 |
100元/張 |
CCD拍照 |
200元/hr |
500元/hr |
600元/hr |
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收費標準概算 |
為增進本校貴重儀器發展及有效整合校內貴重儀器使用效益,促進系際、院際、校際及產學之密切合作,加強維護與管理,規劃貴重儀器添置相關計劃,以儀器研發、規劃及推廣服務,並有效率使用為重點。並配合本校推動科研重點特色之建立,提供各界所需之研究支援,以期加速提升科技水準。
校內使用不計攤舊成本,校外學術及營利單位使用加計攤舊成本。若有特殊狀況得簽請校長同意之。
設備維護包括:
a. 冰水、冷氣空調系統定期維修保養等每年約需一萬元。
b. 真空系統定期維修保養、腔內孔徑定期清理更換、重新調校等每年約需十萬元。
c. 電子槍更換,正常使用下電子槍壽命約半年,每支電子槍更換及調校約十萬元。
d. 儀器操作人事費用每小時約為一百元。
年維護費約為二十一萬元(攤舊不計)。 |