中文名稱 |
奈米物性量測工作平台 |
英文名稱 |
Workstation for Nano Physical Properties |
申請表單 |
申請表單下載 |
儀器廠牌型號 |
NT-MTD NTEGRA SPECTRA |
購置年限 |
2009/04/29 |
功 能 |
共焦拉曼、螢光、雷射量測
掃描探針顯微系統
- 含接觸模式(contact mode)、輕敲模式(tapping mode)、非接觸模式(noncontact mode)、true noncontact mode、摩擦力模式
- 電流成像(CAFM)
- 磁力成像(MFM)、電力成像(EFM)、功函數成像(KFM)
- 電容成像(SCM)
- 探針微影(nanolithography)
- 穿隧電流(STM): atomic resolution
- 掃描探針能譜(STS)
|
重要規格 |
1. Scanning range: 100x100x12um
2. Sample size up to Φ40×10 mm
3. Confocal microscope
空間解析: 400 nm (當物鏡之NA值為0.7)
雷射波長: 633 nm
波長解析: 0.025 nm (當光柵為 2400線/mm)
光譜範圍: 390 – 800 nm
4. SPM 雷射波長: 800 nm
|
|
|
聯絡人 |
儀器負責人:簡世森老師 (TEL:04-23590121 ext.32142)
fsschien@thu.edu.tw
技術人員: 林志遠先生 (TEL : 04-23590121 ext.32148)
jua8410@hotmail.com
共同貴重儀器中心連絡人: 李春美 (TEL:04-23590121 ext. 30045 )
limei@thu.edu.tw |
注意事項 |
本機台對於檢驗樣品的限制如下:
- 所檢測之樣品需自行處理完畢,如因使用者樣品問題造成無法完成檢測或發生延誤檢測之情形,使用者需自行負責。
- 寄送樣品者需標定樣品量測點、預期訊號位置、預期成果等詳細相關資訊。
- 使用者需自行了解樣品光譜位址,本中心不提供判讀服務。
- 其他有樣品處裡問題請洽負責人或技術人員。
|
收費標準 |
** 不負責樣品製備及底片沖洗 **
每次開機可使用一小時,第二小時開始計算時數費,未滿一小時以一小時計,底片可自備。
|
校內單位 |
校外學術單位 |
營利事業單位 |
使用費 |
300元/hr |
600元/hr |
900元/hr |
探針費 |
依實際使用收費(可自備探針) |
|
收費標準概算 |
為增進本校貴重儀器發展及有效整合校內貴重儀器使用效益,促進系際、院際、校際及產學之密切合作,加強維護與管理,規劃貴重儀器添置相關計劃,以儀器研發、規劃及推廣服務,並有效率使用為重點。並配合本校推動科研重點特色之建立,提供各界所需之研究支援,以期加速提升科技水準。
校內使用不計攤舊成本,校外學術及營利單位使用加計攤舊成本。若有特殊狀況得簽請校長同意之。
設備維護包括:
a. 雷射與光學配件維修保養等。
b. 冷氣空調系統定期維修保養等。
c. 儀器操作人事費用。 |