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中文名稱

奈米物性量測工作平台

英文名稱

Workstation for Nano Physical Properties

申請表單
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儀器廠牌型號

NT-MTD NTEGRA SPECTRA

購置年限

2009/04/29

功 能

共焦拉曼、螢光、雷射量測
掃描探針顯微系統

  • 含接觸模式(contact mode)、輕敲模式(tapping mode)、非接觸模式(noncontact mode)、true noncontact mode、摩擦力模式
  • 電流成像(CAFM)
  • 磁力成像(MFM)、電力成像(EFM)、功函數成像(KFM)
  • 電容成像(SCM)
  • 探針微影(nanolithography)
  • 穿隧電流(STM): atomic resolution
  • 掃描探針能譜(STS)

重要規格

1. Scanning range: 100x100x12um
2. Sample size up to Φ40×10 mm
3. Confocal microscope
 空間解析: 400 nm (當物鏡之NA值為0.7)
 雷射波長: 633 nm
 波長解析: 0.025 nm (當光柵為 2400線/mm)
 光譜範圍: 390 – 800 nm
4. SPM 雷射波長: 800 nm

聯絡人

儀器負責人:簡世森老師 (TEL:04-23590121 ext.32142) fsschien@thu.edu.tw
技術人員: 林志遠先生 (TEL : 04-23590121 ext.32148) jua8410@hotmail.com
共同貴重儀器中心連絡人: 李春美 (TEL:04-23590121 ext. 30045 ) limei@thu.edu.tw

注意事項

本機台對於檢驗樣品的限制如下:

  1. 所檢測之樣品需自行處理完畢,如因使用者樣品問題造成無法完成檢測或發生延誤檢測之情形,使用者需自行負責。
  2. 寄送樣品者需標定樣品量測點、預期訊號位置、預期成果等詳細相關資訊。
  3. 使用者需自行了解樣品光譜位址,本中心不提供判讀服務。
  4. 其他有樣品處裡問題請洽負責人或技術人員。

收費標準

** 不負責樣品製備及底片沖洗 **

每次開機可使用一小時,第二小時開始計算時數費,未滿一小時以一小時計,底片可自備。


校內單位

校外學術單位

營利事業單位

使用費

300元/hr

600元/hr

900元/hr

探針費

依實際使用收費(可自備探針)

收費標準概算

為增進本校貴重儀器發展及有效整合校內貴重儀器使用效益,促進系際、院際、校際及產學之密切合作,加強維護與管理,規劃貴重儀器添置相關計劃,以儀器研發、規劃及推廣服務,並有效率使用為重點。並配合本校推動科研重點特色之建立,提供各界所需之研究支援,以期加速提升科技水準。
校內使用不計攤舊成本,校外學術及營利單位使用加計攤舊成本。若有特殊狀況得簽請校長同意之。
設備維護包括:
 a. 雷射與光學配件維修保養等。
 b. 冷氣空調系統定期維修保養等。
 c. 儀器操作人事費用。


二. 使用管理時間分配
下表中註明儀器擬開放使用、維護等之時段。

時 間

上午 9:00至12:00

下午 13:30至17:00

晚上 17:00至21:00

週一

維 護

校內優先登記

物理系優先登記

週二

校內優先登記

校外優先登記

物理系優先登記

週三

物理系優先登記

校內優先登記

物理系優先登記

週四

校外優先登記

校內優先登記

物理系優先登記

週五

物理系優先登記

校內優先登記

物理系優先登記