東海大學共同貴重儀器中心 | 先進X-Ray樣品結構與成分分析系統

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中文名稱

先進X-Ray樣品結構與成分分析系統

英文名稱

Advance X-Ray system for analysis of structure and composition

申請表單

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儀器廠牌型號

PHILIPS X’PERT Pro MPD

購置年限

2003/7/1

功能

Ｘ光繞射儀可以鑑定各種物質(藥物、材料、礦物等)在結晶樣品中的形狀，結構，晶面的距離及其他相關的結構參數，是化學材料、醫藥等各方面均需使用之儀器。本套Ｘ光繞射儀的主要功能如下:

1.    結構鑑定
2.    薄膜厚度量測(< 1μm)
3.    材料晶粒粒徑大小測量
4.    Rocking curve
5.    表面粗糙度分析
6.    In-plane 量測功能

重要規格

儀器需要電壓: 220-240伏特
儀器最大負載電流: 45安培
儀器重量: 1200公斤
儀器最大輸出功率: 3000瓦特
儀器最高輸出電壓: 60000伏特
儀器最大陽極電流: 60毫安培
Θ/2Θ微程式控制之測角器，鎳濾光器

放置地點

物理系

聯絡人

儀器負責人：王昌仁教授 (TEL：04-23590121 ext. 32144 ) wangcr@thu.edu.tw
共同貴重儀器中心連絡人: 李春美 (TEL：04-23590121 ext. 30045 ) limei@thu.edu.tw

收費標準

99年起校內收取總收費之10%，校外學界收取總收費之30%
目前開放結構鑑定與薄膜厚度量測委託操作；正常情況於收件一週後提供結果。如有急件需另行加收助理加班操作費用。若有特殊需求視個案收費。
委託樣品依設備運轉費與單件樣品處理費合併計費。
收費範例:校內單位委託3件樣品作結構鑑定,共使用2小時
總費用 150x4+200 x 3 = 1200 元。
檔案儲存請自備隨身碟。

	學術單位	產業	說明
設備運轉費	600元/30分鐘	700元/30分鐘	99年起校內收取總收費之10%，校外學界收取總收費之30%
結構鑑定(q-2q)繞射 (樣品上機費)	每件200元	每件400元	只提供樣品可能成份不作晶格常數分析
薄膜厚度量測 (樣品上機費)	每件300元	每件500元	薄膜視樣品製作條件不同；不一定獲得準確厚度值；只提供參考值

收費標準概算

1. 本設備購置成本約為新台幣七百萬元整，妥善維護下約可使用十至十五年，平均攤提更新成本每年最低約為五十萬。
2. 本設備維護包括：
a. 冰水、冷氣空調系統定期維修保養等每年約需一萬元。
b. X光管更換，正常使用下X光管壽命約三年，每支X光管更換及調校約四十五萬元。
3. 儀器操作人事費用每小時約為一百元。

   故平均每年攤舊及基本開銷約為六十六萬元，以一年200工作天，每天六個小時計，每小時成本約為550元。
    與國立大學或國科會貴重儀器中心比較：相同設備台大奈米中心、國科會貴重儀器中心設備運轉費每30分鐘學校
    單位收費350元以上。營利事業單位每30分鐘收費700元。每一樣品服務費300~800元不等。